LIANG, C.-C.; YUAN, M.-S. Investigación bibliométrica sobre la aplicación de indicadores de patentes en Taiwán. Observador del Conocimiento, [S. l.], v. 9, n. 2, p. 1–33, 2024. Disponível em: https://revistaoc.oncti.gob.ve/index.php/odc/article/view/687. Acesso em: 23 nov. 2024.